Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
dispositif pour inspection des tranches — plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspector vok. Waferkontrollgerät, n rus. прибор для визуального контроля пластин, m pranc. dispositif pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspector vok. Waferkontrollgerät, n rus. прибор для визуального контроля пластин, m pranc. dispositif pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
wafer inspector — plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspector vok. Waferkontrollgerät, n rus. прибор для визуального контроля пластин, m pranc. dispositif pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
прибор для визуального контроля пластин — plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspector vok. Waferkontrollgerät, n rus. прибор для визуального контроля пластин, m pranc. dispositif pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
